built-in self-test: BIST

built-in self-test: BIST
ingebouwde zelf-test

English-Dutch technical dictionary. 2013.

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  • Built-in-self-test — (BIST) bedeutet, dass ein elektronischer Baustein eine integrierte Test Schaltung besitzt, welche Testsignale erzeugt und meist auch mit vorgegebenen richtigen Antwort Signalen vergleicht, so dass ein Testresultat an das ATE (Automatic Test… …   Deutsch Wikipedia

  • Built-in self-test — A built in self test (BIST)mechanism within an integrated circuit (IC) is a function that verifies all or a portion of the internal functionality of the IC. For example, a BIST mechanism is provided in advanced fieldbus systems to verify… …   Wikipedia

  • Built-in self-test — Un built in self test, souvent appelé par l acronyme BIST, est un mécanisme permettant à un système matériel ou logiciel[réf. nécessaire], ou comprenant les deux, de se diagnostiquer lui même. Le diagnostique peut être déclenché soit par l… …   Wikipédia en Français

  • BIST — Built in self test (BIST) bedeutet, dass ein elektronischer Baustein eine integrierte Test Schaltung besitzt, welche Testsignale erzeugt und meist auch mit vorgegebenen richtigen Antwort Signalen vergleicht, so dass ein Testresultat an das ATE… …   Deutsch Wikipedia

  • BIST — Built In Self Test (Academic & Science » Electronics) Built In Self Test (Computing » Hardware) * Behavior Intervention Support Team (Community » Law) …   Abbreviations dictionary

  • Bist — may refer to: *Bist River on the France Germany border *Bist (village) in Azerbaijan *Built in self test, an integrated circuit feature …   Wikipedia

  • BIST — abbr. Built In Self Test (Power4, IBM) comp. abbr. Built In Self Test …   United dictionary of abbreviations and acronyms

  • BIST — abbr. Built In Self Test …   Dictionary of English abbreviation

  • BIST — abbr. Built in self test …   Dictionary of abbreviations

  • Joint Test Action Group — (JTAG) is the usual name used for the IEEE 1149.1 standard entitled Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture for test access ports used for testing printed circuit boards using boundary scan.JTAG was an industry group formed in… …   Wikipedia

  • Automatic Test Equipment — (ATE) ist ein allgemeiner Begriff für messtechnische Apparaturen, die von der Chip und Elektronik Industrie während der Produktion zum testen benutzt werden. Integrierter Schaltkreise im Wafertest oder Chip und Modul Test; analoger Bauteile im… …   Deutsch Wikipedia

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